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FEI TECNAI G2 F20 200KV场发射透射电子显微镜

时间:2017-05-24浏览:6486设置

仪器型号:FEI TECNAI G2 F20

生产厂家:美国 FEI公司

    1、主要功能及应用范围:

该仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件,能获取TEM明场、暗场像高分辨像和选区电子衍射,能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析,STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析,利用三维重构软件进行样品的三维重构和分析。

该仪器可完成材料组织形态、晶体结构、化学成分、界面结构,表面和缺陷等方面的测试与分析,可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学, 金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。

2、主要规格及技术指标:

加速电压:200KV

放大倍数:25K-1030K

点分辨率:0.24nm

线分辨率:0.102nm

信息分辨率:0.14nm

样品倾斜角度:< ±30°

相机常数: 30-4500 mm

电子枪:肖特基热场发射电子枪

球差系数Cs/色差系数Cc1.2mm/1.2mm

 3、联系方式:

设备保管人:郭军(老师)

电话/Email0512-65880393/guojun@guntechinc.com

地点:7041楼电镜中心


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